熒光濾光片產(chǎn)品一般是采用蒸發(fā)鍍膜制成的，濾光片的膜層會(huì )產(chǎn)生柱狀結果，因此膜層容易受到外界的環(huán)境的影響而產(chǎn)生變換。
波長(cháng)漂移還受到吸附潮氣而影響，薄膜的折射率隨吸附潮氣而變化，水汽進(jìn)入膜內后，膜層的平均折射率提高，膜層的光學(xué)厚度增加，導致光學(xué)曲線(xiàn)向長(cháng)波移動(dòng)，發(fā)生波長(cháng)漂移，窄帶濾光片和截止濾光片的吸潮波長(cháng)漂移現象尤為明顯。
熒光濾光片質(zhì)量好壞，直接影響儀器的靈敏度高低，而濾光片的質(zhì)量又是以其波長(cháng)精度及其峰值指標來(lái)衡量的，因此濾光片波長(cháng)精度及峰值是衡量光學(xué)儀器的重要參數之一，這在廠(chǎng)家的儀器說(shuō)明書(shū)中雖未曾提及，但在儀器的實(shí)際使用過(guò)程中，我們發(fā)現對波長(cháng)精度和峰值進(jìn)行檢查是重要的也是必要的，通過(guò)檢查可以發(fā)現濾光片的波長(cháng)標定值與實(shí)測值的符合程度，可以發(fā)現濾光片的質(zhì)量是否符合要求。
熒光濾光片膜層厚度的均勻性是指膜厚隨著(zhù)基板表面位置變化而變化的情況。膜厚均勻性不好，膜系特性會(huì )遭到嚴重的破壞，所以薄膜厚度的均勻性如同薄膜厚度監控一樣是一個(gè)重要的課題。
對于不同的薄膜往往有不同的均勻性要求。對單層MgF2減反射膜，若膜厚為λ0/4（λ0=520nm），則均勻性誤差一般不得超過(guò)40nm，否則就會(huì )在同一基板上出現不同顏色。要求嚴格的是熒光濾光片，其均勻性誤差所引起的整個(gè)濾光片表面上的峰值波長(cháng)變化不能大于半寬度的0.3倍。對于一個(gè)直徑不大于50mm、在可見(jiàn)光區半寬度不小于20nm的濾光片，這個(gè)要求不算太高，但是對于更大直徑和更窄半寬度的濾光片問(wèn)題就非常突出。對截止陡度要求很高的截止濾光片也是同樣，均勻性不好將導致過(guò)渡性嚴重惡化。
